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C測(cè)試儀3504-50能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷，對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能。

C測(cè)試儀 3504-40封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等， 能根據(jù)C和D（損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷。

LCR測(cè)試儀 3511-50精巧，5ms快速測(cè)量LCR，高速測(cè)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）， 高精度： ± 0.08%， 內(nèi)置比較器。

LCR測(cè)試儀IM35361mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量，可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量，從研發(fā)到供應(yīng)線活躍在各種領(lǐng)域中。

LCR測(cè)試儀IM3533基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度是我司以往產(chǎn)品的10倍，內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。